測定装置

GHz KEC法シールド効果測定装置
GHz KEC法シールド効果測定装置

[JSE-KEC6G]

―複雑な試料の加工は不要

用途
  • シートまたはフィルム状の試料がもつGHzKEC法によるシールド性能評価を行うことができます。
特長
  • 1~6GHzの広い周波数帯を1台で測定可能です。
  • 試料は50mm角程度あれば評価可能です。
仕様
  • 周波数レンジ :1~6GHz
  • 挿入損失 :1dB以下@1GHz(typ)
  • ダイナミックレンジ:80dB(公称、入力レベル及び受信機の測定限界に依存)
  • 入出力接栓 :N型メス(50Ω)
  • 寸法 :W300×D350×H350(突起物除く)
  • 重量 :約20kg
KEC法シールド効果測定装置
KEC法シールド効果測定装置

[JSE-KEC]

―電界/磁界を個別に評価

用途
  • シートまたはフィルム状の試料がもつ、KEC法によるシールド性能評価を行うことができます。
    電界治具と磁界治具の2種類があります。
特長
  • 100kHz~1GHzまでの周波数帯で電界または磁界に対するシールド性能評価が可能です。
仕様
  • 周波数レンジ :100kHz~1GHz
  • ダイナミックレンジ:入力レベル及び受信機の測定限界に依存
  • 入出力接栓 :N型メス(50Ω)
  • 寸法 :W300×D300×H400(突起物除く)
  • 重量 :約30kg

測定装置の設置事例

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