測定装置

GHz KEC法シールド効果測定装置
GHz KEC法シールド効果測定装置

［JSE-KEC6G］

―複雑な試料の加工は不要

用途
  • シートまたはフィルム状の試料がもつGHzKEC法によるシールド性能評価を行うことができます。
特長
  • 1～6GHzの広い周波数帯を1台で測定可能です。
  • 試料は50mm角程度あれば評価可能です。
仕様
  • 周波数レンジ ：1～6GHz
  • 挿入損失 ：1dB以下@1GHz(typ)
  • ダイナミックレンジ：80dB(公称、入力レベル及び受信機の測定限界に依存)
  • 入出力接栓 ：Ｎ型メス（50Ω）
  • 寸法 ：W300×D350×H350（突起物除く）
  • 重量 ：約20kg
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KEC法シールド効果測定装置
KEC法シールド効果測定装置

［JSE-KEC］

―電界/磁界を個別に評価

用途
  • シートまたはフィルム状の試料がもつ、KEC法によるシールド性能評価を行うことができます。
    電界治具と磁界治具の2種類があります。
特長
  • 100kHz～1GHzまでの周波数帯で電界または磁界に対するシールド性能評価が可能です。
仕様
  • 周波数レンジ ：100kHz～1GHz
  • ダイナミックレンジ：入力レベル及び受信機の測定限界に依存
  • 入出力接栓 ：Ｎ型メス（50Ω）
  • 寸法 ：W300×D300×H400（突起物除く）
  • 重量 ：約30kg

測定装置の代表事例

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