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測定装置・測定補助設備・治具・机等
測定装置
GHz KEC法シールド効果測定装置
[JSE-KEC6G]
複雑な試料の加工は不要
用途
シートまたはフィルム状の試料がもつGHzKEC法によるシールド性能評価を行うことができます。
特長
1~6GHzの広い周波数帯を1台で測定可能です。
試料は50mm角程度あれば評価可能です。
製品カタログはこちら
KEC法シールド効果測定装置
[JSE-KEC]
電界/磁界を個別に評価
用途
シートまたはフィルム状の試料がもつ、KEC法によるシールド性能評価を行うことができます。
電界治具と磁界治具の2種類があります。
特長
100kHz~1GHzまでの周波数帯で電界または磁界に対するシールド性能評価が可能です。
仕様
周波数レンジ :100kHz~1GHz
ダイナミックレンジ:入力レベル及び受信機の測定限界に依存
入出力接栓 :N型メス(50Ω)
寸法 :W300×D300×H400(突起物除く)
重量 :約30kg
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